Rendgenska fluorescentna analiza – XRF (X-ray Fluorescence)
XRF je metoda koja omogućava kvalitativne i kvantitativne analize gotovo svih elemenata od Na do U prisutnih u nepoznatom uzorku. Analiza nije destruktivna, ima visoku preciznost i tačnost, a moguće je istovremeno određivati više elemenata. Osnovni princip ove metode ogleda se u interakciji primarnog zračenja, fotona dovoljno visoke energije, i ispitivanog materijala – uzorka. Sa našim sertivikovanim osobljem i visokokvalitetnom opremom poslednje generacije kompanije HITACHI smo tu da vam obezbedimo najpreciznije i najpouzdanije rezultate za vaše dalje poslovanje. Možemo kombinovati i ostale NDT konvencionalne i napredne metode kako bi vaš obim posla bio maksimalno upotpunjen ispitivanjima. Kod nas možete čak iznajmiti XRF uređaj u slučaju da imate neku manju proizvodnju pa vam je potrebno da izvršite uzorkovanje sami za sebe. Za detaljne informacije obratite nam se putem maila ili mobilnog telefona.
Miloš Gojović +381 64 1455 435
milos.gojovic@sgicompliance.nl